EXFO光器件测试仪 CT440/CT440-PDL

主要功能：

1.快速测量变换函数（插损） 

2.波长范围：1240 - 1680 nm（SMF型号） 

3.PM和PDL选件 

4.波长分辨率：1至250 pm 

5.波长精准度：±5 pm 

6.动态范围：单次扫描时65 dB 

7.最多可结合4个可调谐激光器（SMF型号） 

8.配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展 

9.19英寸机架支持1U版本

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道，单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外，在以10 nm/s至100 nm/s之间的任何速度进行扫描时波长精准度都可以达到±5 pm，因此不需要在测量速度和精准度间进行取舍。