EXFO OPAL-SD单裸片自动化探针台是一款针对半导体晶圆切割后（Post-Dicing）的单个裸片（Die） 进行高性能电学、光电或射频测试的精密设备。它在半导体研发、制造及可靠性评估中扮演着关键角色。

EXFO FTBx-1750高性能光功率计在光器件/模块的研发、生产与质检环节中，是确保性能与可靠性的关键测量工具。它不仅仅是一个简单的功率读数设备，更是解决行业核心痛点的高精度解决方案。

光纤色散测试之所以至关重要，核心在于色散直接限制光通信系统的传输速率与距离，影响信号完整性与误码率，尤其在高速网络（10Gbps+）与长距离传输中更为显著。而 EXFO FTB-570（FTBx-570/FTB-5700）凭借单端精确测试、全参数覆盖、高一致性与实验室级精度，成为实验室光纤色散测试的理想选择。

EXFO FTBx-945光损耗测试仪在光器件与子系统生产测试中充当了高精度的 “质量判官”与“数据溯源核心” 的角色。它解决的是生产线对速度、精度、一致性和可追溯性的极致要求。

通过高度集成的多通道平台，降低系统复杂性和线缆干扰。 提供原生、高质量的信号产生与分析能力，确保测试激励信号的准确性。 内置标准化的抖动注入和压力眼生成向导，简化最复杂的测试设置。 强大的自动化API和与FTB平台的集成，将复杂的多步测试流程打包成“一键执行”，直接输出通过/失败结果和报告，完美应对研发深度分析和生产高效率的双重需求。