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EXFO光器件测试仪 CT440/CT440-PDL


覆盖从1240到1680 nm的频谱范围 快速精准EXFO插损测试仪

所属分类:

光器件测试仪

关键词:

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产品简介

主要功能:

1.快速测量变换函数(插损)

2.波长范围:1240 - 1680 nm(SMF型号)

3.PM和PDL选件

4.波长分辨率:1至250 pm

5.波长精准度:±5 pm

6.动态范围:单次扫描时65 dB

7.最多可结合4个可调谐激光器(SMF型号)

8.配备四个内部检测器,可通过同步进行扩展

9.19英寸机架支持1U版本

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道,单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外,在以10 nm/s至100 nm/s之间的任何速度进行扫描时波长精准度都可以达到±5 pm,因此不需要在测量速度和精准度间进行取舍。

解决方案

关键词:

EXFO光器件测试仪 CT440/CT440-PDL
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